電磁兼容檢測
電磁兼容實驗室是為了進(jìn)行電磁兼容試驗而建立的一類特殊的實驗室。首先解釋一下電磁兼容的基本概念:指電磁系統(tǒng)、分系統(tǒng)在各自的電磁環(huán)境中能正常工作而不因受到電磁干擾降低工作性能的能力。
電磁兼容檢測更多介紹
一、電磁兼容檢測簡介
電磁兼容實驗室是為了進(jìn)行電磁兼容試驗而建立的一類特殊的實驗室。首先解釋一下電磁兼容的基本概念:指電磁系統(tǒng)、分系統(tǒng)在各自的電磁環(huán)境中能正常工作而不因受到電磁干擾降低工作性能的能力。為了驗證電子電機設(shè)備EMC設(shè)計是否良好,必須在研發(fā)之整個過程中,對各種電磁干擾源之發(fā)射干擾、傳輸特性及受干擾設(shè)備能否負(fù)荷耐受性測試,驗證設(shè)備是否符合相關(guān)電磁兼容性標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范。
二、安磁檢測——電磁兼容實驗室介紹
安磁檢測電磁兼容實驗室已在華南地區(qū)建立了完備的電磁兼容(EMI,EMS)能力,擁有1個10m法電波暗室,4個3m法電波暗室,5個屏蔽室及EMS抗干擾室;其中10m法和一座9*6*6滿足醫(yī)療設(shè)備EMC測試要求,最大電壓電流可達(dá)380V/200A(三相)和1000V/200(DC),測試能力廣,測試數(shù)據(jù)準(zhǔn),可為廣大電子廠商提供完整的CE、FCC、VCCI等國家EMC法規(guī)和預(yù)測試服務(wù)。
三、電磁兼容認(rèn)證項目
美洲:FCC SDOC、FCC ID、ISED、ISED ID等;
歐洲:CE-EMC、E-Mark等;
亞洲:CCC、CQC、BSMI、KC、VCCI、PSE等;
澳洲:C-TICK、RCM等;
四、電磁兼容檢測項目及標(biāo)準(zhǔn)
電磁兼容性測試包含電磁干擾測試(EMI)及電磁耐受性測試(EMS)。電磁兼容標(biāo)準(zhǔn),要求電子電機設(shè)備相關(guān)產(chǎn)品必須符合輻射干擾與傳導(dǎo)干擾發(fā)射規(guī)格,以及輻射耐受性與傳導(dǎo)耐受性規(guī)格。
(一)電磁干擾(EMI,包括CE 及RE),測試主要內(nèi)容有:電子電機產(chǎn)品和設(shè)備在各種電磁雜訊環(huán)境中之傳導(dǎo)干擾和輻射干擾發(fā)射量之測試及各種訊號傳輸時,干擾傳遞特性之測試。
(二)電磁耐受性(EMS,包括CS 及RS)測試主要內(nèi)容則有:
1.對電場、磁場之輻射耐受性測試;
2.對電源線、控制線、訊號線、地線等注入干擾之傳導(dǎo)耐受性測試;
3.對靜電放電和各種暫態(tài)電磁波(突波或電性快速暫態(tài))之耐受性測試。
測試項目 |
標(biāo)準(zhǔn) |
空間輻射(Radiation) |
CISPR32 & 11 &14-1 &15, EN55032 & 11 &14-1 &15, AS/NZS CISPR32 & 11 &14-1 &15, KN32 & 11 &14-1 &15, ICES-003 & ICES-005&ICES-001, FCC Part15 & 18, VCCI, GB/T9254, GB/T13837, GB/T17743, GB4343.1,GB 4824 |
傳導(dǎo)干擾(Conduction) |
CISPR32 & 11 &14-1 &15, EN55032 & 11 &14-1 &15, AS/NZS CISPR32 & 11 &14-1 &15, KN32 & 11 &14-1 &15, ICES-003 & ICES-005&ICES-001, FCC Part15 & 18, VCCI, GB/T9254, GB/T13837, GB/T17743, GB4343.1,GB 4824 |
功率輻射(Power Clamp) |
CISPR14-1,EN55014-1,AS CISPR14-1, GB4343.1, KN14-1; GB/T 13837 |
磁場輻射(Magnetic Emission) |
CISPR15, EN55015, AS/NZS CISPR15, GB/T17743 |
諧波電流(Harmonic) |
IEC/EN61000-3-2 |
電壓波動和閃爍(Flicker) |
IEC/EN61000-3-3 |
靜電放電(ESD) |
IEC/EN61000-4-2、GB/T17626.2 |
輻射抗擾度(R/S) |
IEC/EN61000-4-3、GB/T17626.3 |
脈沖群抗擾度(EFT/B) |
IEC/EN61000-4-4、GB/T17626.4 |
浪涌(SURGE) |
IEC/EN61000-4-5、GB/T17626.5 |
傳導(dǎo)抗干擾(C/S) |
IEC/EN61000-4-6、GB/T17626.6 |
工頻磁場(M/S) |
IEC/EN61000-4-8、GB/T17626.8 |
電壓跌落/中斷(DIPS) |
IEC/EN61000-4-11、GB/T17626.11 |
振鈴波(Ring wave) |
IEC/EN61000-4-12、GB/T17626.12 |
諧波、諧間波抗干擾 |
TEC/EN61000-4-13、GB/T17626.13 |
五、電磁兼容實驗室
測試場地 |
試驗項目 |
標(biāo)準(zhǔn) |
備注 |
3m法全電波暗室 |
輻射發(fā)射 |
GB4824-2004(CISPR11-2003) GB9254-2008(CISPR22-2006) |
30MHz |
輻射抗擾度 |
GB17626.3-2006(IEC61000-4-3:2002) |
80MHz |
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傳導(dǎo)抗擾測量屏蔽室 |
電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗 |
GB17626.4 |
最高可達(dá)7kV |
射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度 |
GB17626.6 |
最高可達(dá)30V |
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電氣照明及類似設(shè)備插入損耗試驗 |
GB17743 |
9KHz-30MHz |
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電氣照明及類似設(shè)備輻射電磁騷擾試驗 |
GB17743 |
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諧波閃爍測量屏蔽室 |
諧波電流發(fā)射試驗 |
GB17625.1-2012(IEC 61000-3-2:2009) GB17625.6-2003(IEC 61000-3-4:1998) GB17625.7-2013 |
最高可達(dá)75A |
電壓變化、電壓波動和閃爍 |
GB17625.2-2007(IEC 61000-3-3:2005) GB17625.3-2000(IEC 61000-3-5:1994) |
最高可達(dá)100A |
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交流電源端口諧波抗擾度 |
GB17626.13-2006(IEC 61000-4-13:2002) |
最高可達(dá)100A |
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電壓波動抗擾度試驗 |
GB17626.14-2005(IEC 61000-4-14:2002) |
最高可達(dá)100A |
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直流紋波抗擾度 |
GB17626.17-2005(IEC 61000-4-17:2002) |
最高可達(dá)100A |
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三相電壓不平衡試驗 |
GB17626.27-2006(IEC 61000-4-27:2000) |
最高可達(dá)100A |
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工頻頻率變化抗擾度 |
GB17626.28-2006(IEC 61000-4-28:2001) |
最高可達(dá)100A |
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大于16A電壓暫降、短時中斷和電壓變化 |
GB17626.34-2012(IEC 61000-4-34:2009) |
最高可達(dá)100A |
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直流電源輸入端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化 |
GB17626.29-2006(IEC 61000-4-29:2000) |
最高可達(dá)100A |
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靜電放電測量屏蔽室 |
靜電放電抗擾度試驗 |
GB17626.2-2006(IEC 61000-4-2:2001) |
最高可達(dá)30kV |
電壓暫降、短時中斷和電壓變化 |
GB17626.11-2008(IEC 61000-4-11:2004) |
最高可達(dá)100A;斷電(0-100%) |
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低頻共模傳導(dǎo)抗擾度 |
GB17626.16-2007(IEC 61000-4-16:2002) |
最高騷擾電平30V |
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瞬態(tài)抗擾測量屏蔽室 |
浪涌抗擾度 |
GB17626.5-2008(IEC 61000-4-5:2005) |
最高可達(dá)10kV |
阻尼振蕩磁場抗擾度 |
GB17626.10-1998(IEC 61000-4-10:1993) |
最高可達(dá)3kV;三相440V /100A; |
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振蕩波抗擾度試驗 |
GB17626.12-1998(IEC 61000-4-12:1995) |
最高可達(dá)3kV;三相440V /100A |
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工頻磁場抗擾度 |
GB17626.8-2006(IEC 61000-4-8:2001) |
短時可達(dá)1000A/m |
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脈沖磁場抗擾度 |
GB17626.9-2011(IEC 61000-4-9:2001) |
最高可達(dá)2000A/m |